X射線使用衍射原理來(lái)確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)質(zhì)地和應(yīng)力。X射線管執(zhí)行物質(zhì)的相分析，定性分析和定量分析。廣泛用于冶金，石油，化工，科研，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。 當(dāng)已知X射線波長(zhǎng)λ時(shí)，可以使用細(xì)粉或細(xì)粒多晶的線性樣品。 反射面被反射在測(cè)量了θ之后，可以使用布拉格公式確定晶格平面間距d，晶胞尺寸和晶胞類型。 

　　在X射線結(jié)構(gòu)分析中使用粉末法的理論基礎(chǔ)確定衍射線的強(qiáng)度，可以進(jìn)一步確定晶胞中原子的排列。X射線是一種短波長(zhǎng)的電磁波，它可以穿透一定厚度的材料，并使熒光材料發(fā)光，感光乳劑感光，并產(chǎn)生氣體被離子化。 通過(guò)用電子束轟擊金屬“靶”而產(chǎn)生的包括具有特定波長(zhǎng)的X射線，該特定波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)于靶中的各種元素，稱為特征X射線。 

　　發(fā)現(xiàn)X射線衍射現(xiàn)象后，很快就被用于研究金屬和合金的晶體結(jié)構(gòu)，已成為研究晶體物質(zhì)和某些非晶態(tài)物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)的有效方法。分析是金屬中X射線衍射的常用方法，分為定性分析和定量分析。X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)定性分析將測(cè)得的待測(cè)材料的晶格間距和衍射強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)相的衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以確定材料中存在的相。

　　定量分析根據(jù)衍射圖的強(qiáng)度確定要測(cè)試的材料的相每個(gè)階段的比例。檢查X射線管晶體可以用作X射線空間衍射光，即X射線束穿過(guò)晶體時(shí)將發(fā)生衍射。衍射波的疊加使射線的強(qiáng)度在某些方向上增強(qiáng)而在其他方向上減弱。 在用于確定單晶取向的勞厄法中，所使用的單晶樣品是固定且不變的。輻射束的波長(zhǎng)λ用作變量，以確保晶體中的所有晶面都滿足條件。 因此選擇連續(xù)X射線束。 然后將已知的晶體用于測(cè)量。在獲得衍射線θ的方向之后，可以計(jì)算X射線的波長(zhǎng)λ以確定產(chǎn)生特征X射線的元素。 這是X射線光譜法，可用于分析金屬和合金的成分。 在照相底片上獲得的衍射圖可以確定晶體結(jié)構(gòu)。

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