X射線實時成像系統(tǒng)試件上如有妨礙涉嫌穿透或妨礙貼片的附加物，如設(shè)備附件、保溫材料等，應(yīng)盡可能去除。事件表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格，如表面不規(guī)則狀態(tài)可能在底片上產(chǎn)生掩蓋焊縫中缺陷的圖像時，應(yīng)對表面進(jìn)行打磨休整。按照工藝文件規(guī)定的檢查部位、比例、一次透照長度，在工件上劃線。

　　采用單壁透照時，需要在試件兩側(cè)（射線側(cè)和膠片側(cè)）同時劃線，并要求兩側(cè)所劃的線段應(yīng)盡可能對準(zhǔn)。采用雙壁單影透照時，只需在試件一側(cè)（膠片側(cè)）劃線。按照標(biāo)準(zhǔn)和工藝的有關(guān)規(guī)定擺放像質(zhì)計和各種鉛字標(biāo)記。線型像質(zhì)計應(yīng)放在射源線側(cè)的工件表面上，位于被檢焊縫區(qū)的一端（被檢長度的1/4處），鋼絲橫跨焊縫并與焊縫方向垂直，細(xì)絲置于外側(cè)。

　　X射線實時成像系統(tǒng)只有在射源側(cè)無法放置像質(zhì)計時，方可將其放在膠片側(cè)，但須進(jìn)行對比試驗，使實際像質(zhì)指數(shù)達(dá)到規(guī)定要求。像質(zhì)計放膠片側(cè)時，應(yīng)加放“F”標(biāo)記，以示區(qū)別。當(dāng)采用源在內(nèi)（F=R）的周向曝光技術(shù)時，只需每隔90°放一個像質(zhì)計即可。各種鉛字標(biāo)記應(yīng)齊全，至少包括：搭接標(biāo)記，工件編號，焊縫編號，部位編號。返修透照時，應(yīng)加返修標(biāo)記R。

　　便攜式X射線探傷機(jī)對余高磨平的焊縫透照，應(yīng)加指示焊縫位置的原點或箭頭標(biāo)記。各種標(biāo)記的擺放位置應(yīng)距焊縫邊緣至少5mm。其中搭接標(biāo)記的位置：在雙壁單影或源在內(nèi)F>r的透照方式時，應(yīng)放在膠片側(cè)，其余透照方式應(yīng)放在射源側(cè)。該系統(tǒng)適用于軍工、電子、石油、化工、耐火材料、鋼管、壓鑄、鍋爐、汽車、壓力容器、高鐵、航空、航天等行業(yè)的無損檢測。

　　實現(xiàn)動態(tài)實時成像，運行速度快、圖像質(zhì)量高，提高了檢測速度及可靠性。系統(tǒng)配套機(jī)械傳動裝置，可選擇不同角度以動態(tài)效果觀察工件內(nèi)部缺陷及尺寸測量。特別適用于在線檢測。我公司在該技術(shù)方面，2004年被國家發(fā)改委確定為國家X射線實時成像檢測系統(tǒng)高技術(shù)產(chǎn)業(yè)化基地。

　　近年來，隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，先進(jìn)的表面分析技術(shù)已成為研究材料、能源、催化、微電子、半導(dǎo)體、鋼鐵等領(lǐng)域表面特性的重要技術(shù)。這些分析設(shè)備提供有關(guān)元素組成、化學(xué)狀態(tài)和電子結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵信息，并在表面特性研究和材料/設(shè)備性能提高中發(fā)揮重要作用。